Metrolog XG(メトロログエックスジー) < Inspection Solutions < 製造ソリューション < 製品・ソリューション < 三井E&Sシステム技研株式会社

三井E&Sシステム技研株式会社

Inspection Solutions

Metrolog X4V5(メトロログエックスフォーブイファイブ)

Metrolog X4(メトロログエックスフォー)

Metrolog X4V5は、接触式プローブ及びレーザースキャナーの測定データとCATIA V5 データとの照合をリアルタイムに行うことが出来ます。これによって、3次元設計から測定評価までをシームレスに連携させることが実現できます。

製品の特徴

CATIA V5 との連携

幾何公差
  • CATIA V5データをそのまま利用可能
    面崩れなどの問題を解消
  • データム情報
    データム情報を利用した座標作成が可能
  • 幾何公差
    幾何公差情報を利用し、測定~評価までを自動化
  • 寸法公差
    寸法・角度などの公差情報を利用し、面倒な公差照合を
    効率化

座標作成

点群処理
  • フィーチャ(要素)参照
  • フィーチャベストフィット
  • 6ポイントアライメント
  • データムターゲット
  • 3D単独図(FTA)の利用
  • 治具を利用した3球合わせ
  • 3-2-1 アライメント

点群処理

幾何公差
  • 大容量で高密度な点群を解析
  • CATIA V5データと点群を比較
  • 要素抽出と幾何公差評価を自動化
  • Flush&Gap(隙間・段差)の直観的な処理
  • 素材の厚さを考慮して比較(シートメタル)

ハイパフォーマンス

パフォーマンス
  • マルチCPU・64bit対応
  • 大容量CADファイルをインポートし操作可能
  • 大容量点群をインポート/取得可能

レポート出力

幾何公差
  • レポート編集機能により簡単にカスタマイズが可能
  • 簡単で使い易いユーザインターフェイス
  • 顧客要求に適応させたレポートテンプレートを作成